SANKO山高 SWT-NEO-N 渦流薄膜厚度計

簡要描述： SANKO山高 SWT-NEO-N 渦流薄膜厚度計

產(chǎn)品展示

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詳細介紹

纖薄易用的數(shù)字式

SWT-NEO-N：SWT-NEO+SNFe-2.0

特征

測量范圍寬廣，為 0 至 2.0 毫米

零點和標準調(diào)整可實現(xiàn)即時測量

用法

陽極氧化/噴漆/襯里

測量范圍

0 至 2.00 毫米

顯示方法

LCD 數(shù)字顯示屏，保持

顯示分辨率

1μm：0 至 999μm
可切換；
0.1μm：0 至 400μm
；0.5μm：400 至 500μm；
0.01mm：1.00 至 2.00mm

測量精度（垂直于平面測量）

對于厚度為 0 至 100 μm 的均勻表面
：±1 μm 或指示值的 ±2%；對于厚度
為 101 μm 至 2.00 mm 的表面：在 ±2% 以內(nèi)。

校準曲線記憶

×1

電源

2節(jié)AA堿性電池（1.5V）連續(xù)使用時間（25小時*）
交流適配器（可選）
，帶自動關機功能
*最大值（可能因使用情況而異）

工作溫度

0 至 40°C（無冷凝）

機器尺寸

72（寬）× 30（高）× 156（深）毫米

重量

約270克（含電池）

配件

標準厚度平板、零點測試平板、干電池、收納箱、手帶、保修卡和用戶登記表、使用說明書

探測

單點恒壓接觸式，V形切口，φ13 x 47 mm

評論

還有功能強大的 SWT-NEO II 型號，它具有內(nèi)存和統(tǒng)計功能。

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