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SANKO山高 薄膜厚度計探頭測量支架

SANKO山高 薄膜厚度計探頭測量支架 product

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SANKO山高 薄膜厚度計探頭測量支架

簡要描述： SANKO山高 薄膜厚度計探頭測量支架

  • 產(chǎn)品型號：
  • 發(fā)布時間：2026-01-31

詳細介紹

SANKO山高   Quintsonic T 超聲波薄膜厚度計

特征

可以對同一點施加恒定的力，從而實現(xiàn)穩(wěn)定的測量。

兼容探頭：SWT系列、CTR、Pro、Mini Test等。（詳情請聯(lián)系我們）

用法

規(guī)格

尺寸
120（寬）× 200（深）× 280（高）毫米
重量
約1.6公斤