SANKO山高 薄膜厚度計 迷你測試 745 product
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SANKO山高 薄膜厚度計 迷你測試 745
探頭兼容,可提供出色的測量精度,且無干擾,即使溫度發(fā)生變化也能保持讀數(shù)穩(wěn)定,并保證在整個測量范圍內具有出色的重復性。
深圳市京都玉崎電子有限公司
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