SANKO山高 SWT系列專用探頭
特別功能
主機(jī)可配備可互換的獨(dú)立探頭。
根據(jù)被測物體的不同,選擇適用于鐵磁性(電磁式)或非鐵磁性(渦流式)基板的探針。
根據(jù)應(yīng)用和測量范圍,可以選擇高穩(wěn)定性探頭來測量微小物體或類似物體。
SWT(鐵探針)規(guī)格
模型
SFe-2.5※1/2.5升
SFe-0.6Pen
顯示分辨率
1μm:0~999μm,切換至0.1μm:0~400μm,0.5μm:400~500μm,0.01mm:1.00~2.50mm
1μm:0~600μm 切換至 0.1μm:0~400μm 0.5μm:400~500μm
精度(在平面上垂直測試)
0~100μm:±1μm 或讀數(shù)的±2%;
101μm~2.50mm:±2%
0~100μm:±1μm 或讀數(shù)的±2%;101μm~600μm:
讀數(shù)的±2%
探針
單點(diǎn)接觸恒壓型,
V型切口 2.5:φ15×47mm 2.5L:18×23×67mm
單點(diǎn)接觸恒壓型,V形切口 φ5.6 x 92.2mm
配件
標(biāo)準(zhǔn)厚度,零號測試板(Fe)
測量物體
在鐵、鋼等磁性金屬基材上進(jìn)行涂層、襯里、熱噴涂膜、電鍍(電解鎳電鍍除外)等處理。
在鐵、鋼等狹窄/小面積的零件基材上進(jìn)行涂層、襯里、電鍍。
※1.探頭耐熱(約200℃)。(SFe-2.5)
※2.V 型探頭適配器(3 種:小于 Φ5、Φ5~10、Φ10~20)可與 SFe-2.5 配合使用。
顯示分辨率
1μm:0~999μm;
0.01mm:1~10mm
1μm:0~999μm;
0.01mm:1~5mm;
0.1mm:5~20mm
精度(在平面上垂直測試)
0~3mm:±(5μm + 讀取值的3%);
大于或等于3.01mm:±讀取值的3%。
探針
單點(diǎn)接觸恒壓型,V形切口,φ20.4x47.1mm
單點(diǎn)接觸恒壓型,V形切口,φ35x55mm
配件
標(biāo)準(zhǔn)厚度,零度測試板(Fe)
SWT(NFe探針)規(guī)格
顯示分辨率
1μm:0~999μm,
切換至
0.1μm:0~400μm,0.5μm:400~500μm,
0.01mm:1.00~2.00mm
精度(在平面上垂直測試)
0~100μm:±1μm
或讀數(shù)的±2%;
101μm~2.00mm:±2%
探針
單點(diǎn)接觸恒壓型,V型切口
2.0:φ15 x 47mm 2.0L:18 x 22 x 67mm
配件
標(biāo)準(zhǔn)厚度,零板測試用(NFe)
探針需單獨(dú)訂購。
※V 型探頭適配器(3 種:小于 Φ5、Φ5~10、Φ10~20)可與 SNFe-2.0 配合使用。
顯示分辨率
1μm:0~600μm
切換至
0.1μm:0~400μm
0.5μm:400~500μm
1μm:0~999μm;
0.01mm:1~8mm
精度(在平面上垂直測試)
0~100μm:±1μm
或讀數(shù)的±2%;
101μm~600μm:±2%
0~3mm:±(5μm + ±3%讀取值);
大于或等于3.01mm:±3%讀取值
探針
單點(diǎn)接觸恒壓型,V形切口,Φ13×45.5mm
單點(diǎn)接觸恒壓型,V形切口 φ35×59mm
配件
標(biāo)準(zhǔn)厚度,零板測試用(NFe)
例如鋁、銅等材料,具有很高的穩(wěn)定性,適用于細(xì)棒、管材和微型零件。
相對較厚的物體